仪器、传感器、测量模块及更多
综合优势使Hot Disk®仪器成为全球材料研究与质量控制（QC）领域公认的灵活的、高可靠性系统，支持导热系数、热扩散率、蓄热系数及比热容的精准分析。产品符合ISO 22007-2标准并通过CE认证。
Hot Disk®尖端型仪器产品组合
提供设备凭借行业领先的测量精度与多功能性，集成多项先进技术特性，支持多维度热物性参数分析。
测量精度基于微开尔文级温度灵敏度技术，实现行业领先的测量精度。
量程范围导热系数测试范围达0.005-1800 W/mK，覆盖全品类材料测试需求。
样品类型适配：
•固态材料：块体、板材、箔材、纺织品 •复合材料：层压体、叠层结构 •特殊形态：凝胶、膏体、液体 •导电/绝缘材料全覆盖样本尺寸厚度兼容厘米级至微米级样品。
各向异性测试支持二维/三维各向异性材料测试，可解析方向依赖性导热系数与热扩散率。
专业化质量控制（QC）检测
- 快速无损检测技术：适配时效性生产环境，实现产线同步质量监控。
- 导热系数深度剖面分析：精准定位材料/组件内部结构缺陷与相变区域。
电池检测模块
- 层状复合结构测试：解析锂电池电极/隔膜材料的各向异性导热系数与热扩散率。
- 全尺寸比热容检测：支持纽扣型、圆柱型、方形及软包电池测试（毫米级至分米级）。
Hot Disk®仪器与配件
仪器系列
Hot Disk®仪器型号广泛，可用于测试和测量导热系数、热扩散率、蓄热系数和比热容，符合ISO 22007-2标准。虽然测量范围通常较为广泛，但我们顶级仪器独特之处在于能够监测超短瞬态温度读数，从而处理亚毫米级厚样品和超过1800 W/m/K的高导热材料。我们仪器的另一个独特特点是无需外部校准。我们的客户可以放心地使用仪器，而无需担心定期返回仪器进行重新校准的不便。每台Hot Disk®仪器包括两个LEMO连接器端口：一个用于相关的Hot Disk®传感器，另一个用于可选的PT100环境温度传感器。请咨询我们下面的互动链接，以帮助确定最适合您预期应用和需求的那款Hot Disk®仪器。。
Hot Disk ®实验室仪器
我们的实验室仪器主要面向研发工作，但也常用于质量控制测试。它们基于模块化设计，我们的测量模块范围可以随时添加，以提供无与伦比的灵活性，解决各种样品类型、形状和尺寸的问题。在开发新材料、组件、设备等领域，这一点尤为重要。
TPS 3500
Hot Disk® TPS 3500 是我们目前最先进的仪器，当您的样品较小且导热系数很高时，Hot Disk TPS 3500是测量导热系数，热扩散系数，蓄热系数和比热的理想工具。TPS 3500 的功能远远超出了目前其他任何可用仪器的范围——导热系数范围从 0.005 到 1800 W/m/K，能处理 10 微米厚的板状样品，并适应从低温到 1000°C 的温度。它还具有独特的分析能力，可以通过使用专用的 Hot Strip® 传感器分析单轴和双轴材料的各向异性热传导参数。TPS 3500 符合 ISO 22007-2 标准，并通过CE 认证。
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TPS 2500 S
Hot Disk TPS 2500 S是Hot Disk AB公司一系列产品中的核心系统。这台多用途、高性能的研发级别导热系数仪专为精密分析各种材料（固体、液体、粉末和膏状物）的热传导特性而设计。可频繁用于自动化生产线质量控制测试。 TPS 2500 S可处理亚毫米厚的厚块样品，导热系数范围从0.005到1800 W/mK，适应从低温到1000°C的温度。也能分析单轴材料的各向异性热传导特性。 符合ISO 22007-2标准，并带有CE标志。
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TPS 2200
Hot Disk® TPS 2200 是一款通用且价格实惠的研发仪器，用于精确测量导热系数、热扩散系数、蓄热系数和比热容。当同时考虑性能和价格时，TPS 2200 是一个理想的选择。TPS 2200 可处理各种令人满意的样品几何形状，包括厚度低至毫米级的块状样品。它可以测量 0.01 至 500 W/m/K 的导热系数，并且可在 -100°C 至 750°C 的温度范围内工作。它还可以分析单轴材料的各向异性热传导特性。TPS 2200 当然也符合 ISO 22007-2 标准，并通过CE认证。
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TPS 1500
经济实惠的Hot Disk® TPS 1500 是测试建筑材料、隔热材料或任何其他类型的大体积样品的理想导热系数仪。TPS 1500 导热系数范围包括 0.01 至 400 W/m/K，仪器处理温度范围从 -100°C 到 750°C。样品尺寸可低至几毫米的厚度。它还可以分析单轴材料的各向异性热传导性能。TPS 1500 符合 ISO 22007-2 标准，并获得 CE 标志。
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TPS 500 (S)
Hot Disk TPS 500 S作为一款杰出的热常数分析仪，能快速的准确的测量不同材料的导热系数，热扩散系统、蓄热系数和比热容，因此是优秀的入门级导热系数测量仪，并且非常适合质量控制测试。TPS 500 S 可以处理厚度仅为几毫米的块体样品，其导热系数范围为 0.03 至 200 W/m/K，温度范围为 -100°C 至 300°C。它部分基于 ISO 22007-2 标准，并通过CE认证。
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TPS 500
Hot Disk® TPS 500 快速且准确地测量各种材料的导热系数、热扩散系数、蓄热系数和比热容。因此，它是理想的入门级导热系数仪，非常适合质量控制测试。TPS 500 可处理块体样品，厚度低至几毫米。TPS 500 导热系数范围从 0.03 到 100 W/m/K，温度范围从 -100°C 到 200°C。它部分基于 ISO 22007-2 标准，并通过CE认证。
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Hot Disk M1
Hot Disk M1是一套导热系数测试的基础设备，却能提供高精度和优秀的测试重复性。使用 M1，可以轻松测试导热系数在 0.03 至 40 W/m/K 范围内的固体、粉末和糊状物。可以处理厚度低至一厘米的样品，并且温度范围是 10℃ 至 40℃。M1 部分基于 ISO 22007-2 标准，并通过CE认证。
了解详情 >Hot Disk ®质量控制仪器
我们的质量控制（QC）仪器专为QC测试而设计，但也可用于研发。它们可以扩展其功能，以满足特定产品线QC测试案例的需求，在这些案例中，测试场景是长时间固定的。为了实现可扩展性，我们提供多种传感器套件，每个套件都有专用的传感器型号和相关测量模块。
TPS 1000
Hot Disk® TPS 1000 是一款强大的质量控制测试仪器，能够高精度测量热传导性能。TPS 1000 具有可扩展性，在其最基本的配置中，它主要作为一种价格有吸引力的简单导热系数仪，用于一维（平面内）测试。然而，TPS 1000 也可以用作专用的比热测试仪。在升级配置中，该仪器还可以用作先进的导热系数、热扩散系数和蓄热系数的测试，其性能和功能与我们的 TPS 2200 实验室仪器相近。换句话说，它适用于处理毫米级厚度的块状样品，测量导热系数在 0.01 至 500 W/m/K 范围内，处理温度范围从 -100°C 到 750°C，并用于分析单轴材料的各向异性热传导性能。TPS 1000 符合 ISO 22007-2 标准，并通过CE认证。
了解详情 >测量模块
Hot Disk®仪器不仅可以通过选择传感器来满足特定的测试需求，还可以通过广泛的测量模块来实现。这些模块允许对具有特殊的几何形状、导热系数范围及材料类型的样品进行测试。各向同性模块是测量块体样品的标准模块，并包含在所有仪器中。附加模块进一步扩展了仪器的功能，例如处理各向异性、板状样品或薄膜样品。基于长期的客户经验，Hot Disk方便地为客户提供多个配置，以及许多仪器型号，通过组合多个相关兴趣的模块，或提供完整的测试范围来满足个体化需求。实际上，这意味着Hot Disk客户可以选择以折扣订购多个附加模块。请联系您当地的Hot Disk销售代表以获取可用的选项。
Hot Disk ®测试模块
蓄热系数测试模块（附加模块）
使用我们的附加热扩散率测量模块，Hot Disk®仪器的用户可以直接使用我们的Hot Disk®或Hot Strip®传感器高精度测量体材料和层状样品的面外方向蓄热系数。该模块专为测试低导热材料而设计，如纺织品、织物和缓冲材料。它也非常适合测试高导热样品，如热界面材料。
适用于以下Hot Disk®仪器：
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各向同性模块（标准模块）
我们基础且强大的各向同性测量模块允许Hot Disk®仪器用户测量任何块体样品的导热系数、热扩散系数、蓄热系数和比热容，无论是固体、液体、颗粒、粉末、膏状物、凝胶、泡沫还是绝热材料，都具有高精度且能在数秒内完成测试。我们的Hot Disk®传感器被夹在两个相同的样品片之间。样品厚度范围从几厘米到亚毫米级别。
适用于以下Hot Disk®仪器：
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平板模块（附加模块）
通过使用我们的附加板测量模块，Hot Disk®仪器的用户可以准确测量高导热板或片状样品的平面内导热系数、热扩散率和蓄热系数。板或片状样品可以是金属板、石墨片或层压板、半导体晶圆、硅胶膜、金属箔等。样品厚度范围从几毫米到几微米。
适用于以下Hot Disk®仪器：
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一维模块（附加功能）
通过使用我们附加的一维测量模块，Hot Disk®仪器用户可以测量棒状样品的平面外方向导热系数、热扩散系数和蓄热系数，样品宽度可低至1.5mm，长度可低至4mm。当样品量有限时，该模块非常实用，例如贵金属条或锭、石墨颗粒和火花等离子烧结材料。
适用于以下Hot Disk®仪器：
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薄膜模块
通过我们的附加薄膜测量模块，Hot Disk®仪器的用户可以轻松地使用Hot Disk®传感器测量绝热薄膜或涂层的面外导热系数，其厚度应在微米范围内。薄膜可以是塑料、纸张、柔性玻璃等，而涂层可以是喷涂聚合物、溅射电介质、旋涂陶瓷等。
适用于以下Hot Disk®仪器：
了解详情 > 比热模块（附加模块）
使用我们的附加比热容测量模块，Hot Disk®仪器的用户可以直接测量复合样品或组件的比热容（Cp）。这些包括非平面固体表面、各向异性复合材料或晶体、低粘度液体和尺寸各异的组件。典型示例是电池（纽扣、圆柱形、方形和软包电池）。可使用我们专用的Hot Cell®传感器进行准确测量。*仅在没有Hot Cell®传感器的情况下进行测量。
适用于以下Hot Disk®仪器：
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低密度/高绝热模块
通过使用我们附加的低密度/高绝热测量模块，Hot Disk®仪器用户可以自信地测试超低导热材料（如气凝胶和低密度泡沫）的导热系数。样品导热系数可低至0.01 W/mK，测试准确。
适用于以下Hot Disk®仪器：
了解详情 > 结构探头模块（附加组件）
通过我们的附加结构探头测量模块，Hot Disk®仪器用户可以测量样品导热系数随着探测深度的变化，范围从亚毫米到厘米级别。这种独特的能力为质量控制测试提供了强大的工具，如均匀性、缺陷检测，或分析材料或组件内部的不均匀物质，从而可以无损检测。示例包括石墨-环氧树脂结构、橡胶轮胎和刹车片。
适用于以下Hot Disk®仪器：
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单面测试模块（附加模块）
使用我们的附加单面测试测量模块，Hot Disk®仪器用户可以测量导热系数、热扩散系数、蓄热系数和比热容，具有高精度。无需夹紧Hot Disk®或Hot Strip®传感器在两个相同样品片之间，而是将传感器和隔热背景放置在单个样品片或组件的表面上。这使得可以在生产线组装时进行快速、高精度的质量控制测试。
适用于以下Hot Disk®仪器：
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自动化模块（附加模块）
通过我们的附加自动化测量模块，Hot Disk®仪器用户可以通过TCP/IP协议完全远程控制测量。该模块是在生产线装配中使用仪器进行自动化质量控制测试的重要工具，并解决了用户无法直接使用仪器的情况。
适用于以下Hot Disk®仪器：
了解详情 >传感器
我们目前提供三种不同类型的传感器，与我们的Hot Disk®仪器配合使用——与我们的测量模块系列相配合。所有三种传感器类型都使用TPS元件——一种带有电绝缘包层的图案化镍箔——同时用于瞬态加热和精确的温度读取。
我们的专利Hot Disk®传感器是测量各向同性样品的导热系数和热扩散率的标配传感器。它也用于测试二维各向异性样品，例如单轴晶体和层状复合材料，这些材料在平面内和平面间具有不同的特性。
我们的专利Hot Strip®传感器作为Hot Disk®传感器的补充，主要用于测试三维各向异性样品，例如双轴晶体和纤维复合材料，这些材料在不同方向上具有不同的特性。
我们的Hot Cell®传感器是最新的类型补充，自主研发，用于测量任意类型、形状和大小的物质或组件（重点关注电池）的比热容。
Hot Disk ®传感器
作为导热系数与热扩散率测量的核心组件，Hot Disk®专利传感器采用双螺旋镍丝结构，配备三种绝缘覆膜材料：聚酰亚胺（Kapton）、聚四氟乙烯（Teflon）和云母（Mica）。该设计使其可适配不同环境温度、介质及工况，镍丝螺旋结构支持高灵敏度温度检测，覆膜则提供电绝缘、机械稳定性与长期耐用性。
我们的聚酰亚胺覆膜的传感器支持最高300℃（无氧环境下可达400℃），而云母覆膜传感器适用于300℃至800℃（特殊场景可扩展至1000℃）。聚四氟乙烯覆膜传感器专为酸性/腐蚀性环境设计，最高耐受250℃。
传感器半径覆盖0.5毫米至30毫米，可精准适配高密度小尺寸样品或低密度大体积多孔材料。我们的传感器有带线缆和无线缆版本。线缆也有不同材质以适应不同的测试需求：灰色聚合物线缆<50℃，红色硅胶线缆<180℃，白色陶瓷线圈线缆在极端环境下可达1000℃。对于超低温场景还提供专用细径硅胶线缆。
在温度>500℃时，云母覆膜的传感器属于高温易耗品，需批量配置。聚四氟乙烯覆膜传感器在腐蚀性环境中寿命受限，建议定期更换。聚酰亚胺覆膜传感器在妥善使用与存储条件下，可提供长期稳定性能。
Kapton聚酰亚胺覆膜
我们的Kapton覆膜传感器是Hot Disk®传感器系列中最通用的传感器，可在-253°C（20 K）至400°C的温度范围内使用。它们机械性能灵活并且在使用时经常能达到几年的寿命。Kapton覆膜Hot Disk®传感器有十七种不同半径的型号，适用于广泛的样品尺寸和应用。
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Teflon覆膜
我们的特氟龙覆膜Hot Disk®传感器机械性能灵活，适用于液体或高粘度流体浸没，并且能承受高达250°C的温度。它们专为极端条件设计，如酸性或腐蚀性环境，或具有粘性及反应性样品的环境。如今，特氟龙绝缘Hot Disk®传感器有六种较小半径的型号可供选择。
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云母覆膜
我们的云母覆膜Hot Disk®传感器机械性能坚固，专为高温测量而设计，通常在300°C至1000°C范围内使用。目前共有八种不同半径的型号，它们在更高温度下通常更容易损坏，但易于更换且可大量供应。
了解详情 >Hot Strip®传感器
我们专利的 Hot Strip® 传感器用于测试热导率和热扩散率，就像我们的 Hot Disk® 传感器一样。这些类型相互补充，进一步扩展了灵活性并为我们的测试范围增加了新功能。Hot Strip® 传感器的设计和基本功能与 Hot Disk® 传感器相同，不同之处在于镍箔采用垂直线形式而不是双螺旋形式。目前，Hot Strip® 传感器采用 Kapton 包层，最高工作温度为 300°C（真空或无氧环境中为 400°C）。它的宽度和长度分别为 6.4 至 16 毫米和 19 至 59 毫米。与 Hot Disk® 传感器类似，Hot Strip® 传感器有带或不带电缆附件两种，因此提供相同的电缆包层选项。
Kapton覆膜
虽然我们的Hot Disk®传感器可以适应大多数测量场景，但我们的Hot Strip®传感器可以特别处理异形和/或有限尺寸的样品，例如具有矩形或方形截面的矩形薄板和棒。关于各向异性样品，Hot Strip®传感器可用于分析双轴材料的3D导热系数和热扩散系数，而Hot Disk®传感器则仅限于分析单轴材料的2D导热系数和热扩散系数测量。
了解详情 >Hot Cell ®传感器
我们自主发明的 Hot Cell® 传感器用于测试比热容 (Cp)。它们由一个带盖的薄金属容器组成，TPS 元件永久固定在其底座上。重要的是，盖子可以紧密关闭，而不会被里面要测试的样品或组件阻挡。金属容器采用低密度泡沫隔热材料进行隔热，该材料包含在传感器配置中。我们提供各种具有不同单元形状和体积的 Hot Cell® 传感器，以适应不同类型和尺寸的材料和组件。对于组件，目前的重点是常见的电池几何形状。我们还提供具有定制单元形状和体积的 Hot Cell® 传感器，以适应不常见或新型电池几何形状。使用我们的 Hot Cell® 传感器，可以在 -60°C 至 180°C 的环境温度下测试电池的 Cp。
Hot Cell®传感器
测试液体、凝胶和膏状的Cp值，高达180°C 这种Hot Cell®传感器具有小体积的空间，适用于测试液体、凝胶和膏状物。该容器由18K金制成，形状为扁平圆柱体，宽度为19毫米，高度为4.5毫米。金材质使得清洁和处理酸性或腐蚀性样品变得轻松便捷。
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Hot Cell®传感器
测试纽扣电池和小型袋装电池的Cp值 这三种Hot Cell®传感器具有小到中等体积的空间，适用于测试块体、颗粒和粉末。它们也是测试小型电池的理想选择，如纽扣电池和小型袋装电池。这些容器由铝制成，形状为扁平圆柱体。三种容器尺寸分别为宽度和高度20毫米和5毫米，40毫米和9毫米，以及70毫米和12毫米。
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Hot Cell® 圆柱形电池传感器
这三款Hot Cell®传感器主要用于测试圆柱形电池。它们的容器体积与标准化圆柱形电池几何形状相匹配。这些容器由铝制成，形状为高筒形。三款容器的尺寸分别为宽度15毫米和高度70毫米；30毫米和75毫米；50毫米和85毫米。为了改善圆柱形电池与铝制电池之间的热接触，我们建议使用硅油。
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Hot Cell® 扁平电池传感器
这三款Hot Cell®传感器主要用于测试扁平电池，特别关注中号尺寸的软包电池。这些容器由铝制成，形状为带有圆边的扁平方形盒子。三款容器尺寸分别为宽度80毫米和高度12毫米；160毫米和16毫米；240毫米和20毫米。由于容器具有圆边，最大袋装电池尺寸将取决于袋装电池是方形还是矩形。
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Hot Cell®大尺寸电池传感器
这些Hot Cell®传感器主要用于测试扁平电池，特别关注大尺寸软包电池和方形电池。这些容器由铝制成，形状为带有圆角的扁平方形或矩形盒子。容器尺寸可定制，最大宽度、长度和高度分别为400毫米、400毫米和100毫米。应特殊需求，Hot Disk可以安排更大宽度和长度的容器。由于容器的圆角设计，最大软包电池尺寸将取决于软包电池是方形还是矩形。
了解详情 >辅助设备
为了满足客户的测试需求，Hot Disk 提供一系列辅助设备，这些设备既有内部开发的，也有通过可信的第三方开发的。在该产品类别中，我们提供通过低温恒温器、浴槽循环器、对流炉、马弗炉和管式炉进行温度控制的解决方案。此外，我们还为需要从单个 Hot Disk® 仪器与多个 Hot Disk®、Hot Strip® 或 Hot Cell® 传感器配合使用进行多点和不间断测量的场景安排传感器开关单元。我们还提供一系列样品支架和传感器固定装置，适用于各种样品几何形状、类型和环境温度。此外，还提供大量实用物品，例如传感器延长线、PT100 环境温度传感器和样品压力控制解决方案。Hot Disk 还提供一系列验证样品，包括不锈钢、石英晶体和 PMMA 样品。
温度控制单元 (TCU)
我们提供多种第三方 TCU，它们共同覆盖了 Hot Disk® 仪器的整个样品温度范围，即从 -253 °C (20 K) 到 1000 °C。这些 TCU 具有针对专用 Hot Disk® 传感器电缆的定制馈通，并且我们的 Hot Disk® 传感器接口和带插件的样品支架配件也经过量身定制。它们的温度稳定性均优于 ±0.5°C，这是使用我们的仪器进行高精度和精确度测量所必需的。TCU 通过 Hot Disk® 桌面应用程序自动控制，与相关的 Hot Disk® 仪器协同工作。
持续通气的低温系统
这款落地式低温系统使用来自杜瓦瓶的连续液氮流动进行冷却，并使用电阻丝元件进行加热。该系统由四个独立部分组成：圆柱形真空室，顶部有液氮容器，两者都集成在落地支架上；温度控制单元；涡轮分子泵；以及自增压杜瓦瓶。
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低温至高温的温度控制箱
这个落地式TCU设备使用两级制冷系统，以及R404A和R23制冷剂用于制冷，并搭配周围配有加热元件用于加热的风扇。它配备了一个箱形温度室，体积为50升。
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油浴循环器
这种落地式油浴循环器采用欧盟批准的丙烷（A45）冷却介质，并配有用于加热的电加热元件。油浴循环器具有耐腐蚀的不锈钢风扇，储液器为12升。该温度容器的有效工作区域为6升。
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分体式管式炉
这款较大的台式水平管式炉为分体型，使用多区金属线圈元件进行加热。该炉具有可拆卸的管状和真空密封的温度腔，内径为100毫米。分体式设计减少了管体降温时间。
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PT100 温度传感器
PT100温度传感器可选用于记录样品附近的环境温度，以及在使用Hot Disk®仪器进行测量之前的环境温度。当使用温度控制单元（TCU）时，它特别有用，因为样品温度可能与集成TCU温度计记录的温度不同。请注意，此PT100温度传感器不用于我们TCU单元的自动温度控制。
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PT100 温度传感器
PT100温度传感器可选用于记录样品附近的环境温度，以及在使用Hot Disk®仪器进行测量之前的环境温度。当使用温度控制单元（TCU）时，它特别有用，因为样品温度可能与集成TCU温度计记录的温度不同。请注意，此PT100温度传感器不用于我们TCU单元的自动温度控制。
了解详情 >多探头转换器
这些转换器主要用于实现高通量的质量控制测试。我们目前提供两种转换器，分别为Hot Disk®、Hot Strip®或Hot Cell®传感器提供八个和四个传感器端口。每个传感器端口均配有PT100温度传感器端口，以便对每个端口进行环境温度监测。多探头转换器由Hot Disk®程序自动控制，与相关的Hot Disk®仪器协同工作。
Hot Disk® Switch-8
这款台式八端口探头转换器非常适合生产线的大规模快速质量控制测试，搭配Hot Disk®仪器使用。它还可以在大样本/组件区域进行多点质量控制测试或研发测量。转换器配有八个用于Hot Disk®、Hot Strip®或Hot Cell®传感器的端口。所有八个传感器端口均配有单独的PT100温度传感器端口。
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Hot Disk® Switch-4
这款台式四端口探头转换器非常适合小规模质量控制应用，搭配Hot Disk®仪器使用。它还可以在大样本/组件区域进行多点质量控制测试或研发测量。转换器配有四个用于Hot Disk®、Hot Strip®或Hot Cell®传感器的端口。所有四个传感器端口均配有单独的PT100温度传感器端口。
了解详情 >配件
我们提供各种 Hot Disk® 或 Hot Strip® 传感器电缆、传感器接口和带附件的样品架，以适应不同的样品尺寸、样品类型（块状、板状、粉末、糊状、液体等）、样品压力、样品温度以及我们 TCU 各自的温度室容量。还提供有限范围的 Hot Disk® 验证样品。
传感器线缆 – 室温段 -20°C 至 50°C
这款灰色聚合物包层的传感器线缆旨在搭配我们的Kapton或Teflon绝缘的Hot Disk®、Hot Strip®或Hot Cell®传感器在室温下运行。它的一端配有8针Lemo连接器，用于连接我们的Hot Disk®仪器（或我们的多探头转换器），另一端有四根裸线，用于永久连接到传感器。
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传感器线缆 – 低温至中温段 -60°C 至 180°C
这款红色硅胶包层的传感器线缆旨在搭配我们的Kapton或Teflon绝缘的Hot Disk®、Hot Strip®或Hot Cell®传感器在低温至中温段，-60°C 至 180°C运行。它的一端配有4针Lemo连接器，用于连接我们的Hot Disk®仪器（或我们的多探头转换器），另一端有四根裸线，用于永久连接到传感器。
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传感器电缆 - 低温
这种红色和黑色硅胶包层的细直径传感器线缆适用于低温下的测量，低至20 K，使用液氮装置和我们的Kapton®或Teflon绝缘Hot Disk®或Hot Strip®传感器。
了解详情 >传感器线缆延长线
这款灰色聚合物包层的传感器线缆延长线适用于需要在测试点和Hot Disk®仪器之间保持较长距离的测量场景。它两端配有8针Lemo连接口，可无缝延长我们的室温传感器线缆或转接线。
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传感器线缆转接线
这款灰色聚合物包层的传感器转接线适用于需要低温至中温段的传感器线缆，连接4针lemo接口到8针Lemo接口，可连接到我们的设备主机或多探头转换器。
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传感器接口 - 高温
此传感器接口用于临时连接裸露的Kapton或Teflon绝缘的Hot Disk®或Hot Strip®传感器与传感器线缆，并适应高达300°C的高温测量。
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样品支架适用于板、晶圆、片、纺织品和薄膜
此样品支架用于测试高导热板或片状样品（与我们的平板测量模块一起使用），这些样品相对坚硬，如金属板、石墨片或层压板以及半导体晶圆。在环境温度低于400°C时，此样品支架通常与我们的Kapton绝缘Hot Disk®传感器型号5501和8563一起使用。在更高温度时，通常与我们的云母绝缘Hot Disk®传感器型号5082一起使用。
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样品支架，适用于细粉末、膏状物、凝胶、泡沫和奶油
此样品支架适用于测试细粉末、膏状物、凝胶、泡沫和奶油。它主要用于与我们的Kapton绝缘Hot Disk®传感器型号5465和5501在低于400°C的环境温度下的操作，但也可用于与我们的Teflon绝缘（用于反应性样品）Hot Disk®传感器在低于250°C的环境温度下使用。同样，它也可用于与我们的Mica绝缘Hot Disk®传感器型号5465和5082在高于400°C的环境温度下使用。
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样品支架适用于粗粉、谷物、珠粒和颗粒
此样品支架适用于测试粗粉、谷物、珠粒和颗粒等颗粒材料。它主要用于配合我们Kapton绝缘Hot Disk®传感器型号4922进行操作，该传感器具有29.2毫米的双螺旋直径。颗粒样品的粒度必须明显小于（>10倍）双螺旋直径（即<3毫米，适用于Hot Disk®传感器型号4922）。
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样品架，适用于食品、膏状物、凝胶、泡沫和奶油
此样品架主要用于测试需冷冻的样品，如食品。然而，它同样适用于测试高粘度液体、膏状物、凝胶、泡沫和奶油。对于冷冻样品，我们建议使用我们的Kapton覆膜Hot Disk®传感器型号8563；其双螺旋直径为19.8毫米。对于高粘度液体、膏状物、凝胶、泡沫和奶油，我们建议使用双螺旋直径稍小的Kapton覆膜或Teflon覆膜（用于反应性样品）的Hot Disk®传感器。
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液体样品支架
该液体样品支架适用于测试液体，包括粘度极低的液体（如甲苯）。测试液体具有一定的挑战性，因为传感器的加热会在相关液体中引入自然对流，特别是对于低粘度液体，这会干扰测量结果。为了尽量减少这种干扰，样品体积应较小，传感器的尺寸也应适中。因此，我们建议使用我们Kapton覆膜的Hot Disk®传感器型号5465和7577，它们分别具有6.4毫米和4.0毫米的双螺旋直径，用于测试液体。对于反应性样品，我们Teflon覆膜的Hot Diak传感器型号5465和7577（经过一些定制）也可以用于测试。
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样品压缩砝码
这些砝码用于在测试期间对软样品材料进行加压。它们主要用于测试薄膜样品（使用薄膜测量模块），在该用途中，它们的作用是减少Hot Disk传感器与两片薄膜样品之间的接触热阻。这些砝码也可用于研究软体材料在压力下的特性。通过堆叠砝码可以改变压力。
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样品压缩手动测试台
这款台式、手动操作、测力的测试台用于在测试过程中给软样品材料施加压力。它提供了精确的压力和位移监测。手动测试台可以方便地用于研究柔软的块体材料在压力和/或变形下的性能。
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参考样品
这是一个可选材料的参考样品：不锈钢（AISI 316/316L）、熔融石英玻璃（无定形二氧化硅，SiO2）或PMMA（聚甲基丙烯酸甲酯）。提供两个相同的样品件，每个样品件具有直径为60毫米、厚度为20毫米的平面圆柱形。两个样品件装在我们较小尺寸的标志性木质盒中，配有铝盖，并附有测试报告和USB闪存盘。
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验证样品
此套件包含三种不同的参考样品：不锈钢（AISI 316/316L）、熔融石英（无定形二氧化硅，SiO2）和PMMA（聚甲基丙烯酸甲酯）。每种材料提供两个相同的样品件，每个样品件具有直径为60毫米、厚度为20毫米的平面圆柱形。六个样品件装在我们较大的标志性木质盒中，配有铝盖，并附有测试报告和USB闪存盘。
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