Hot Disk TPS 2500 S是Hot Disk AB公司一系列产品中的佼佼者。这款研发用热常数分析仪针对任何类型材料的精准热传导性能分析而设计-包括导热系数，热扩散系数和比热测试。TPS 2500 S能覆盖广阔的材料种类以及几何形状和尺寸，并满足ISO 22007-2标准。
如今广泛的应用在超过1000个实验室里的标准化TPS技术可在一次测试中同时得到导热系数，热扩散系数和比热数据并无需复杂的样品制备，广受用户青睐。TPS 2500 S操作的简便性和优化的Hot Disk探头优秀的表现使这款系统成为测量固体，液体，粉末，膏体和泡沫材料理想的可信的工具。优秀的精度和重复性表现使系统也适用于质检检测领域。
软件模块的选择使TPS 2500 S的测试更加专业，各向同性模块用于各向同性样品的基本测试；一维测试模块用于棒状样品测试；薄膜测试模块用于薄膜，涂层或胶粘层样品测试；平板测试模块用于高导热片或板样品测试；低密度高绝热测试模块用于极轻和低导热样品测试；各向异性测试模块用于各向异性或层状结构样品测试-涵盖了电子，汽车，航空，核能和化工行业所有重要应用。此外，TPS 2500 S还具有独特的结构探头模块，可以探测导热系数随着样品深度的变化，借此TPS 2500 S可以用于如样品是否均一的检测。除了以上所有功能外，TPS 2500 S还可以用于大块固体样品（与传统方法相比，如DSC）精确的比热测试，即使是内部结构复杂的样品。
TPS 2500 S使用的Hot Disk热常数分析软件可以集成自动测试功能，包括外部设备的自动温度控制。软件还包括将结果导出到第三方软件（MS Excel）的功能，可用于额外的数据处理或分析。为了准确和自动的记录环境温度，用户还可以选用我们提供的PT-100温度探头。
TPS 2500 S技术指标
测试信息
样品类型：块体材料、棒材、板坯、晶圆、片状材料、箔、薄膜、层压板、复合材料、矿物、电池、纺织品、颗粒、丸粒、珠粒、谷物、粉末、糊状物、奶油、凝胶、液体、泡沫和绝热材料。
评估
各向异性模块：可行，既可以表征二维各向异性（单轴）材料，也可以表征三维各向异性（双轴）材料，使用可选的各向异性测量模块。
一维模块：可行，可以对复合样品进行轴向估算。
样品尺寸
最小要求 块体测试：0.5mm厚度*2mm直径或边长
一维测试：5mm长度*2.5mm直径或边长
平板测试：42um厚度*8mm直径或边长
薄膜测试：10um厚度*22mm直径或边长
最大要求 块体测试：无限大
一维测试：无限长*60mm直径或边长
平板测试：20mm厚度*无限大直径或边长
薄膜测试：500um厚度*无限大直径或边长
可选温度范围：-253 °C（20K）至1000 °C
系统主机温度：室温
可选温度控制装置（TCU）
低温系统：-195 °C（78K）至室温
高低温箱：-60°C至300 °C
循环浴：-40°C至200°C
烘箱：室温至600°C
马弗炉：室温至800°C
管式炉：室温至1000°C（建议>400°C时保持真空，>800°C的使用惰性气体）。
测试时间： 1至2560秒（取决于样品材质和探头尺寸）
测试范围
导热系数
块体样品：0.005至500W/mk
棒状样品：1至1800W/mk
平板样品：5至1800W/mk
薄膜样品：0.01至5W/mk
热扩散系数
块体样品：0.01至400mm2/s
棒状样品：1至1400mm2/s
平板样品：5至1400mm2/s
薄膜样品：0.02至2mm2/s
蓄热系数：20至55000 W√s/m²/K.
比热：至5MJ/m3K
精度
导热系数：优于±3%
热扩散系数：优于±5%
测试重现性
导热系数 通常优于±1%
热扩散系数 通常优于±3%
测试重复性
导热系数：通常0.055%（不锈钢块体样品，Hot Disk聚酰亚胺覆膜5501探头，样品温度22 °C）
热扩散系数：通常0.22%（不锈钢块体样品，Hot Disk聚酰亚胺覆膜5501探头，样品温度22 °C）
测试灵敏度
温度变化：通常17 μK（不锈钢块体样品，Hot Disk聚酰亚胺覆膜5501探头，样品温度22 °C）
基本信息
满足ISO 22007-2标准：满足
测试模块
标准配置： 各向同性，单面模块，一维模块，结构探头，和自动化控制。
可选配置：各项异性，平板模块，薄膜模块，低密度/高绝热模块，和比热模块
探头型号
Hot Disk聚酰亚胺覆膜探头：适用所有型号
Hot Disk特氟龙覆膜探头： 适用所有型号
Hot Disk云母覆膜探头：适用所有型号
Hot Strip聚酰亚胺覆膜探头：适用所有型号
Hot Cell探头-尺寸<250mm：适用所有型号
Hot Cell探头-尺寸>250mm：需定制
环境温度
设备操作：15°C至30°C
设备存放：-20°C至45°C
设备电力要求
供电要求：100-240 VAC，50-60 Hz
耗电功率：通常45 W，最大255W
设备预热：2小时达到最优状态
仪器输入输出
后面板
USB B型连接器（母头）用于连接。
RS232接口（公头）用于连接TCU设备
前面板
LEMO 8针连接器（母头）用于连接Hot Disk®、Hot Strip®或Hot Cell®传感器。
LEMO 4针连接器（母头）用于连接可选的PT100温度传感器。
仪器尺寸：325mm高 x 455mm宽 x 490mm深
仪器重量：25公斤
仪器CE标志：满足
- Hot Disk AB 保留在不事先通知的情况下进行修改的权利，无论是由于印刷错误、硬件改进还是扩展的软件功能。
- 瞬态温度读取时间。为了确保测试前的等温条件，需要额外的温度稳定时间，这取决于样品材料和温度控制装置TCU（如果有）。
- 比较不同仪器间进行的测量。
- 单个仪器设置连续测量之间的差异。请注意，该值取决于样品材料、传感器型号和样品温度。
- 将△T(r)函数拟合到瞬态温度读取的标准偏差。请注意，该值取决于样品材料、传感器型号、样品温度，并且可能会有所变化。
TPS 2500 S测试结果展示
不锈钢样品
样品信息
材料：不锈钢，AISI 316/316L。
类型：块体。
温度：23°C。
测量参数
测量模块：各向同性。
传感器型号：Hot Disk聚酰亚胺覆膜传感器5501（半径6.4mm）。
测量时间：10s。
加热功率：800mW。
测量结果
数据点：13-200。
导热系数：13.69W/m/K。
热扩散系数：3.705mm2/s。
比热容：3.695MJ/m3/K。
探测深度：12.2mm。
温升：0.5089 K
拟合∆Τ(τ)的标准偏差：13μK
TPS 2500 S仪器配置
标准配置：
- 5个测量模块：各向同性、单面测试、一维、结构探头和自动化。
- 1个聚酰亚胺覆膜Hot Disk®或Hot Strip®传感器：型号自由选择，带电缆。
常规全配置：
- 9个测量模块：各向同性、各向异性、单面测试、平板、薄膜、一维、比热容、结构探头和自动化。
- 10个聚酰亚胺覆膜Hot Disk®或Hot Strip®传感器 ：型号自由选择，带电缆。
扩展全配置：
- 10个测量模块：各向同性、各向异性、单面测试、平板、薄膜、低密度/高绝热、一维、比热容、结构探头和自动化。
- 10个聚酰亚胺覆膜Hot Disk®或Hot Strip®传感器：型号自由选择，带电缆。
总是包含的配置：
Hot Disk® 桌面应用程序软件（最新版本）
1对不锈钢验证块体样品
1对单面模块绝热背景（单面测试）
1个室温样品支架（带防护罩）
使用说明书
仪器出厂测试报告
电源线和USB数据线
