为频繁的测试需求而设计
体系完善的TPS技术如今已经拥有1000+实验室用户，其无需复杂的样品制备即可通过单次测试快速的得到导热系数，热扩散系数和比热容的能力深受用户青睐。独特的Hot Disk探头使TPS 1500系统成为固体，粉末，膏体和泡沫样品测试的强有力工具。如果样品具有更大的尺寸，还可以对高导热样品，如金属，半导体和高导热氧化物进行测试。
TPS 1500是一款能满足繁重测试的可靠的吃苦耐劳的材料研发系统。建筑工厂可以用来方便的高效的分析混凝土水泥混合物，木材，纤维结构和保温材料。
TPS 1500集成Hot Disk热常数分析软件可以集成自动测试功能，包括外部设备的自动温度控制。在基本各向同性和一维软件模块的基础上，系统还可以扩展到各向异性模块用于各向异性样品测试；低密度高绝热测试模块用于极轻和低导热样品测试；比热模块用于组分复杂的块体材料直接的比热容测试
Hot Disk分析软件可以集成自动测试功能，包括外部设备的自动温度控制。还包括将结果导出到第三方软件（MS Excel）的功能，可用于额外的数据处理或分析。为了准确和自动的记录环境温度，用户还可以选用我们提供的PT-100温度探头。
关键性能
探头：TPS 1500可搭配的Hot Disk探头种类繁多，用于不同材料和应用。
温度控制：自动的温度台阶测试（等温台阶）可以通过使用附加的高温炉或者温控循环水浴即可简单实现。这些附加设备可以通过RS-232协议利用Hot Disk热常数分析专用软件直接控制。
基础配置：TPS 1500基础配置包含了您测试所需的一切，如：TPS 1500主机；各向同性测试模块；一个探头；不锈钢标准样品和室温样品架。
可选软件模块：除了基础的各向同性，一维测试模块以外，还有各向异性，比热和低密度高绝热样品测试模块可供选择。
技术指标1
测试信息
样品类型：块状物、棒状物、层压制品、复合材料、矿物质、颗粒、小球、颗粒状物、粉末、膏状物、乳膏、凝胶、液体、泡沫和绝缘体。
评估
各向异性模块：可行，可以表征二维各向异性（单轴）材料，使用可选各向异性模块
一维模块：可行，可以对复合样品进行轴向估算
样品尺寸
最小要求 块体测试 ：3mm厚度*13mm直径或边长
棒状测试：20mm长度*7mm直径或边长
最大要求 块体测试：无限大
棒状测试：无限长度*60mm直径或边长
可选温度范围： -100 °C至750 °C
系统主机温度：室温
可选温度控制装置（TCU）
低温系统：-100°C至室温
高低温箱：-60°C至300 °C
循环浴：-40°C至200°C
烘箱：室温至600°C
马弗炉：室温至750°C
管式炉：室温至750°C（建议>400°C时保持真空）。
测试时间2 ：20至5120秒（取决于样品材质和探头尺寸）
测试范围
导热系数
块体样品：0.01至50W/mk
棒状样品：1至400W/mk
热扩散系数
块体样品：0.01至30mm2/s
棒状样品：1至100mm2/s
蓄热系数：20至35000 W√s/m²/K.
比热：至5MJ/m3K
精度
导热系数：优于±3%
热扩散系数：优于±5%
测试重现性 3
导热系数： 通常优于±1%
热扩散系数：通常优于±3%
测试重复性4
导热系数： 通常0.59%（不锈钢块体样品，Hot Disk聚酰亚胺覆膜5501探头，样品温度22 °C）
热扩散系数 ：通常0.8%（不锈钢块体样品，Hot Disk聚酰亚胺覆膜5501探头，样品温度22 °C）
测试灵敏度5
温度变化：通常44 μK（不锈钢块体样品，Hot Disk聚酰亚胺覆膜5501探头，样品温度22 °C）
基本信息
满足ISO 22007-2标准：满足
测试模块
标准配置： 各向同性，单面模块，和一维模块
可选配置： 各项异性，低密度/高绝热模块，比热模块和自动化
探头型号
Hot Disk聚酰亚胺覆膜探头： 型号5465，5501，8563，4922和5599
Hot Disk特氟龙覆膜探头：型号5465和5501
Hot Disk云母覆膜探头：型号5465，5082，4921，4922和5599
Hot Strip聚酰亚胺覆膜探头：适用所有型号
Hot Cell探头-尺寸<250mm：适用所有型号
Hot Cell探头-尺寸>250mm：需定制
环境温度
设备操作：15°C至30°C
设备存放： -20°C至45°C
设备电力要求
供电要求：100-240 VAC，50-60 Hz
耗电功率：通常45W，最大155W
设备预热：2小时达到最优状态
仪器输入输出
后面板
USB B型连接器（母头）用于连接。
RS232接口（公头）用于连接TCU设备
前面板
LEMO 8针连接器（母头）用于连接Hot Disk®、Hot Strip®或Hot Cell®传感器。
LEMO 4针连接器（母头）用于连接可选的PT100温度传感器。
LEMO 4针插座（母头）用于淘汰型传感器。
仪器尺寸：280mm高 x 455mm宽 x 490mm深
仪器重量：26公斤
仪器CE标志：满足
- Hot Disk AB 保留在不事先通知的情况下进行修改的权利，无论是由于印刷错误、硬件改进还是扩展的软件功能。
- 瞬态温度读取时间。为了确保测试前的等温条件，需要额外的温度稳定时间，这取决于样品材料和温度控制装置TCU（如果有）。
- 比较不同仪器间进行的测量。
- 单个仪器设置连续测量之间的差异。请注意，该值取决于样品材料、传感器型号和样品温度。
- 将△T(r)函数拟合到瞬态温度读取的标准偏差。请注意，该值取决于样品材料、传感器型号、样品温度，并且可能会有所变化。
TPS 1500测试结果展示
不锈钢样品
样品信息
材料：不锈钢，AISI 316/316L。
类型：块体
温度：23°C
测量参数
测量模块：各向同性。
传感器型号：Hot Disk聚酰亚胺覆膜传感器5501（半径6.4mm）
测量时间：20s
加热功率：800mW
测量结果
数据点：11-100
导热系数：13.63W/m/K
热扩散系数：3.608mm2/s
比热容：3.777MJ/m3/K
探测深度：12mm
温升：0.4248K
拟合∆Τ(τ)的标准偏差：35μK
TPS 1500仪器配置
标准配置：
- 3个测量模块：各向同性、单面测试、和一维测试。
- 1个聚酰亚胺覆膜Hot Disk®或Hot Strip®传感器：型号自由选择，带电缆。
常规全配置：
- 5个测量模块：各向同性、各向异性、单面测试、平板、比热容。
- 5个聚酰亚胺覆膜Hot Disk®传感器 ：型号自由选择，带电缆。
扩展全配置：
- 6个测量模块：各向同性、各向异性、单面测试、平板、低密度/高绝热、比热容。
- 5个聚酰亚胺覆膜Hot Disk®或Hot Strip®传感器：型号自由选择，带电缆。
总是包含的配置：
Hot Disk® 桌面应用程序软件（最新版本）
1对不锈钢验证块体样品
1对单面模块绝热背景（单面测试）
1个室温样品支架（带防护罩）
使用说明书
仪器出厂测试报告
电源线和USB数据线
