远程控制测试
自动化测量模块使Hot Disk®仪器能够远程控制。这包括设置TCU温度、输入参数、安排测量、分析数据和导出结果。仪器的远程控制是通过以太网通信进行的。使用自动化测量模块，任何支持以太网通信的首选软件接口都可以被编程以访问和操作Hot Disk®仪器。根据TCP/IP协议，已经提供了一系列命令用于此远程控制。
自动化测量模块主要用于在生产线上实现集成和自动化的质量控制测试，在产品测试、验证、筛选等过程中。然而，在用户由于不在现场或在受限环境中进行测量而无法直接访问Hot Disk®仪器的情况下，它也非常有用。
我们基础且强大的各向同性测量模块允许Hot Disk®仪器用户测量任何块体样品的导热系数、热扩散系数、蓄热系数和比热容，无论是固体、液体、颗粒、粉末、膏状物、凝胶、泡沫还是绝热材料，都具有高精度且能在数秒内完成测试。我们的Hot Disk®传感器被夹在两个相同的样品片之间。样品厚度范围从几厘米到亚毫米级别。
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通过我们的附加各向异性测量模块，Hot Disk®仪器用户可以测量各向异性样品的导热系数和热扩散率，无论样品是晶体还是多晶材料、层压板、纤维复合材料、粘合剂、薄膜堆叠、箔片堆叠、绝热材料等，都能实现高精度测量。我们的Hot Disk®传感器可用于测试二维各向异性（单轴）样品，而我们的Hot Strip®传感器则用于测试三维各向异性（双轴）样品。后一种功能仅适用于我们的高端TPS 3500仪器。 备注：TPS 3500仪器可以使用三维各向异性模块。
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通过使用我们的附加板测量模块，Hot Disk®仪器的用户可以准确测量高导热板或片状样品的平面内导热系数、热扩散率和蓄热系数。板或片状样品可以是金属板、石墨片或层压板、半导体晶圆、硅胶膜、金属箔等。样品厚度范围从几毫米到几微米。
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通过我们的附加薄膜测量模块，Hot Disk®仪器的用户可以轻松地使用Hot Disk®传感器测量绝热薄膜或涂层的面外导热系数，其厚度应在微米范围内。薄膜可以是塑料、纸张、柔性玻璃等，而涂层可以是喷涂聚合物、溅射电介质、旋涂陶瓷等。
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通过使用我们附加的一维测量模块，Hot Disk®仪器用户可以测量棒状样品的面外方向导热系数、热扩散率和蓄热系数，样品宽度可低至1.5mm，长度可低至4mm。当样品量有限时，该模块非常实用，例如贵金属条或锭、石墨颗粒和火花等离子烧结材料。
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通过我们的附加结构探头测量模块，Hot Disk®仪器用户可以测量样品导热系数随着探测深度的变化，范围从亚毫米到厘米级别。这种独特的能力为质量控制测试提供了强大的工具，如均匀性、缺陷检测，或分析材料或组件内部的不均匀物质，从而可以无损检测。示例包括石墨-环氧树脂结构、橡胶轮胎和刹车片。
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使用我们的附加热扩散率测量模块，Hot Disk®仪器的用户可以直接使用我们的Hot Disk®或Hot Strip®传感器高精度测量体材料和层状样品的面外方向蓄热系数。该模块专为测试低导热材料而设计，如纺织品、织物和缓冲材料。它也非常适合测试高导热样品，如热界面材料。
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使用我们的附加比热容测量模块，Hot Disk®仪器的用户可以直接测量复合样品或组件的比热容（Cp）。这些包括非平面固体表面、各向异性复合材料或晶体、低粘度液体和尺寸各异的组件。典型示例是电池（纽扣、圆柱形、方形和软包电池）。可使用我们专用的Hot Cell®传感器进行准确测量。备注：TPS 500 (S)仅在没有Hot Cell®传感器的情况下进行测量。
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通过我们的附加自动化测量模块，Hot Disk®仪器用户可以通过TCP/IP协议完全远程控制测量。该模块是在生产线装配中使用仪器进行自动化质量控制测试的重要工具，并解决了用户无法直接使用仪器的情况。
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