单面测试模块（附加模块）

生产线快速 QC 测试

单面测试模块支持使用 Hot Disk® 或 Hot Strip® 传感器，以单面（而非双面）方式测试导热系数、热扩散系数、蓄热系数和比热容。这简化了测试流程——所需样品量更少、制备更简单，且在样品与传感器的装夹方式上更加灵活。

采用单面样品测试时，将 Hot Disk® 或 Hot Strip® 传感器与绝热背景支撑放置于单块样品或组件表面。绝热背景支撑通常为厚约 1 cm 的聚苯乙烯泡沫块。随后执行与标准双面测试相同的瞬态温度读数，但加热脉冲功率降低 50%。

与标准双面样品测试相比，单面样品测试在结果上表现出优异的重现性和重复性。由此可在生产线上进行快速、高精度的 QC 测试，开展快速的样品对比研究，并测试样品量有限的情况。

需注意的是，单面测试的测量精度略低于标准双面测试。这是因为在瞬态温度读数过程中，传感器周围的热流必然不对称。加之使用了非理想的绝热背景支撑，最佳测试结果通常来自高导热样品；相比之下，低导热样品（例如许多聚合物）通常只能获得蓄热系数。

Hot Disk AB 联合创始人于 1983 年首次描述了这一单面测量方法。他于 1983 年发表在 Review of Scientific Instruments 上的论文¹阐述了其基本原理。

导热系数范围：