平板模块（附加模块）

测试高导热板或片状样品

平板测量模块可实现高导热板或片状样品在平面内导热系数和热扩散系数的直接和同时测试，使用我们的Hot Disk®或Hot Strip®传感器。从这两个参数可以推导出样品的比热容。板或片可以是金属板、石墨片或层压板、半导体晶圆、硅胶膜、金属箔等。支持单面和双面样品测试，前者可实现快速质量控制测试，而后者则最大限度地提高了测量精度。

我们的基础平板测量技术需要用Hot Disk®或Hot Strip®传感器夹紧两块相同的平板样品，并在该装置上放置绝热背景。后者通常通过在样品/传感器的两个外侧放置绝热泡沫来实现。平板测量模块使用起来非常简单。它只需要设置测量时间、瞬态温度记录的输出功率，以及预先得知的平板厚度作为输入参数。厚度从几毫米到微米的平板样品都可以进行测试。

我们发明了这种平板测量技术，其理论在我们1994年发表在《Review Scientific Instruments》上的论文中有所阐述。它符合ISO标准22007-2。Hot Disk AB为这一标准的制定做出了贡献。

导热系数范围:

1* 要达到最高的测量精度，至少需要 5 W/mK以上的样品，不过，低至 1W/mK的样品依旧可以保持很好的重复性。