为极限测试而设计
TPS 3500是一款通用的研发用设备，可针对任何类型的固体或液体进行热传导性能测试。TPS 3500可测的固体可以是致密的，多孔的或粉末状，各向同性或各向异性的，高导的或绝热的，透明的或不透明的。可测的液体可以是浓厚的粘稠的，也可以是低粘度的溶剂，或者任意中间状态的液体。
TPS 3500也满足ISO 22007-2并使用Hot Disk经典的双螺旋探头确保最大的准确性。所有功能的实现都不需要使用接触硅脂，可吸收光的样品表面或固定的样品几何形状。
每台Hot Disk TPS 3500都是根据用户的应用需求量身定制的，可与一系列温度控制配件搭配使用。为了确保尽可能优秀的测试性能，我们会持续的更新和改进控制软件，并快速的提供多种附件。
关键性能
探头：TPS 3500可搭配的Hot Disk探头种类繁多。半径从0.5mm到30mm的探头可用于所有类型的材料和测试应用。如果搭配一个自动探头转换器，系统就可连接多个探头使用。
温度控制：自动的温度台阶测试（等温台阶）可以通过使用附加的高温炉或者温控循环水浴即可简单实现。这些附加设备可以利用Hot Disk热常数分析专用软件直接控制确保使用方便。
基础配置：TPS 3500基础配置包含了您测试所需的一切，如：TPS 3500主机；各向同性，一维测试和结构探头测试模块；一个探头；单面测试模块所需的绝热背景材料；不锈钢标准样品和室温样品架。
可选软件模块：除了基础的各向同性，一维测试和结构探头测试模块以外，还有平板，薄膜，各向异性，比热和低密度高绝热样品测试模块可供选择。
TPS 3500 技术指标1
| 样品类型 |
块体材料、棒材、板坯、晶圆、片状材料、箔、薄膜、层压板、复合材料、矿物、电池、纺织品、颗粒、丸粒、珠粒、谷物、粉末、糊状物、奶油、凝胶、液体、泡沫和绝热材料。 |
|---|---|
| 评估 | |
|
各向异性模块 |
可行，既可以表征二维各向异性（单轴）材料，也可以表征三维各向异性（双轴）材料，使用可选的各向异性测量模块。 |
| 一维模块 |
可行，可以对复合样品进行轴向估算。 |
| 样品尺寸 | |
| 最小要求 | 块状测试：0.5mm厚度*2mm直径或边长。 |
| 一维测试：5mm长度*2.5mm直径或边长。 | |
| 平板测试：42um厚度*8mm直径或边长。 | |
| 薄膜测试：10um厚度*22mm直径或边长。 | |
| 最大要求 | 块体测试：无限大。 |
| 一维测试：无限长*60mm直径或边长。 | |
| 平板测试：20mm厚度*无限大直径或边长。 | |
| 薄膜测试：500um厚度*无限大直径或边长。 | |
| 可选温度范围 | -253 °C（20K）至1000 °C。 |
| 系统主机温度 | 室温 |
|
可选温度控制装置（TCU） |
低温系统：-195 °C（78K）至室温 |
| 高低温箱：-60°C至300 °C | |
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循环浴：-40°C至200°C |
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烘箱：室温至600°C |
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| 马弗炉：室温至800°C。 | |
| 管式炉：室温至1000°C（建议>400°C时保持真空，>800°C的使用惰性气体）。 | |
| 测量时间2 | 0.1至2560秒（取决于样品材质和探头尺寸） |
| 测试范围 | |
| 热导系数 | 块状样品：0.005 至 500 W/m/K。 |
| 棒状样品：1至1800W/m/K。 | |
| 平板样品：5至1800W/m/K。 | |
| 薄膜样品：0.01 至 5 W/m/K。 | |
| 热扩散系数 | 块体样品：0.01至400 mm²/s。 |
| 棒状样品：1至1400mm²/s。 | |
| 板平样品：5至1400mm²/s。 | |
| 薄膜样品：0.02至2mm²/s。 | |
| 蓄热系数 | 20至55000W√s/m²/K。 |
| 比热 | 至 5 MJ/m³/K。 |
| 精度 | |
| 导热系数 | 优于±3% |
| 热扩散系数 | 优于±5% |
| 测试重现性3 | |
| 导热系数 | 通常优于±1% |
| 热扩散系数 | 通常优于±3% |
| 测试重复性4 | |
| 导热系数 | 通常0.11%（不锈钢块体样品，Hot Disk聚酰亚胺覆膜5501探头，样品温度22 °C） |
| 热扩散系数 | 通常0.44%（不锈钢块体样品，Hot Disk聚酰亚胺覆膜5501探头，样品温度22 °C） |
| 测试灵敏度5 | |
| 温度变化 | 通常为43 μK（不锈钢块体样品，Hot Disk聚酰亚胺覆膜5501探头，样品温度22 °C） |
| 满足ISO 22007-2标准 | 满足 |
|---|---|
| 测试模块 | |
| 标准配置 | 各向同性，单面模块，一维模块，结构探头，和自动化控制。 |
| 可选配置 | 各项异性，平板模块，薄膜模块，低密度/高绝热模块，和比热模块。 |
| 探头型号 | |
| Hot Disk聚酰亚胺覆膜探头 | 适用所有型号。 |
| Hot Disk特氟龙覆膜探头 | 适用所有型号。 |
| Hot Disk云母覆膜探头 | 适用所有型号。 |
| Hot Strip聚酰亚胺覆膜探头 | 适用所有型号。 |
| Hot Cell探头-尺寸<250mm | 适用所有型号。 |
| Hot Cell探头-尺寸>250mm | 需定制。 |
| 环境温度 | |
| 设备操作 | 15°C 至 30°C |
| 设备存放 | −20°C 至 45°C |
| 设备电力要求 | |
| 供电要求 | 100 – 240 VAC，50 – 60 Hz |
| 耗电功率 | 通常70 W，最大305 W |
| 设备预热 | 2 小时达到最优状态 |
| 仪器输入和输出 | |
| 后面板 | USB B型连接器（母头）用于连接。 |
| 前面板 | LEMO 8针连接器（母头）用于连接Hot Disk®、Hot Strip®或Hot Cell®传感器。 |
| LEMO 4 针连接器（母头），用于可选 PT100 温度传感器。 | |
| 仪器尺寸 | 325mm高 x 455mm宽 x 615mm深 |
| 仪器重量 | 29公斤 |
| 仪器 CE 标志 | 满足 |
- Hot Disk AB 保留在不事先通知的情况下进行修改的权利，无论是由于印刷错误、硬件改进还是扩展的软件功能。
- 瞬态温度读取时间。为了确保测试前的等温条件，需要额外的温度稳定时间，这取决于样品材料和温度控制装置TCU（如果有）。
- 比较不同仪器间进行的测量。
- 单个仪器设置连续测量之间的差异。请注意，该值取决于样品材料、传感器型号和样品温度。
- 将△T(r)函数拟合到瞬态温度读取的标准偏差。请注意，该值取决于样品材料、传感器型号、样品温度，并且可能会有所变化。
TPS 3500 测试结果展示
| 样本信息 | |
|---|---|
| 材料 | 不锈钢，AISI 316/316L |
| 类型 | 块体 |
| 温度 | 21°C |
| 测量参数 | |
| 测量模块 | 各向同性 |
| 传感器型号 | Hot Disk聚酰亚胺覆膜传感器5501（半径6.4mm） |
| 测量时间 | 10 秒 |
| 加热功率 | 800 mW |
| 测量结果 | |
| 数据点 | 13-200 |
| 导热系数 | 13.67W/m/K |
| 热扩散系数 | 3.647mm2/s |
| 比热容 | 3.748MJ/m3/K |
| 探测深度 | 12.1 mm |
| 升温 | 0.5098 K |
| 拟合∆Τ(τ)的标准偏差 | 31μK。 |
TPS 3500 仪器配置
标准配置：
- 5个测量模块：各向同性、单面测试、一维、结构探头和自动化。
- 1个聚酰亚胺覆膜Hot Disk®或Hot Strip®传感器：型号自由选择，带电缆。
常规全配置：
- 9个测量模块：各向同性、各向异性、单面测试、平板、薄膜、一维、比热容、结构探头和自动化。
- 10个聚酰亚胺覆膜Hot Disk®或Hot Strip®传感器 ：型号自由选择，带电缆。
扩展全配置：
- 10个测量模块：各向同性、各向异性、单面测试、平板、薄膜、低密度/高绝热、一维、比热容、结构探头和自动化。
- 10个聚酰亚胺覆膜Hot Disk®或Hot Strip®传感器：型号自由选择，带电缆。
总是包含的配置：
Hot Disk® 桌面应用程序软件（最新版本）
电源线和USB数据线
-
1对不锈钢验证块体样品
-
1对单面模块绝热背景（单面测试）
-
1个室温样品支架（带防护罩）
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使用说明书
-
仪器出厂测试报告
-
电源线和USB数据线
